產(chǎn)品名稱：LAP-W2000濕法激光粒度儀廠家

技術標準：ISO 13320-1:1999；GB/T19077.1-2008

測試范圍: 0.1um～1250um 0.1um～2000um

探測單元：86、96

激光類型:進口光纖半導體激光器

【易仕特主營產(chǎn)品包括干法激光粒度儀，濕法激光粒度儀，干濕一體激光粒度儀，噴霧激光粒度儀，圖像粒度分析儀，固體密度計，液體密度計，在線密度計，快速水分測試儀，粉末測試儀器等等檢測設備。】

LAP-W2000濕法激光粒度儀廠家

LAP-W2000濕法激光粒度儀
首先感謝您對LAP-W2000濕法智能全自動激光粒度分析儀的關注！
LAP-W2000是我公司傾力研發(fā)的產(chǎn)品，自上市以來贏得了廣大客戶的*好評。LAP-W2000采用*的Mie氏散射原理和會聚光傅立葉變換光路。高密度探頭及全量程無縫銜接測試方法，保證了測試結果的準確性和重復性。*的濕法循環(huán)分散系統(tǒng)，保證顆粒測試過程中無顆粒沉積現(xiàn)象，測試排水后無廢液積存現(xiàn)象，保證了第二次測試精度，使測試結果更真實可靠；同時采取了管道無殘留設計，保證了測試不同樣品的準確性。*的光路自動校對系統(tǒng)彰顯出LAP-W2000*優(yōu)勢。

適用范圍：

LAP-D800干法激光粒度儀適用于水泥、陶瓷、藥品、涂料、樹脂、染料、顏料、填料、化工產(chǎn)品、催化劑、煤粉、泥砂、粉塵、面粉、食品、添加劑、農(nóng)藥、石墨、感光材料、燃料、金屬與非金屬粉末、碳酸鈣、高嶺土及其他粉體行業(yè)。
LAP-W2000激光粒度分析儀主要性能特點：
*的光路設計：LAP-W2000采用會聚光傅立葉變換測試技術保證在較短的焦距獲得大量程，有效提高儀器的分辨能力；*的高密度探測單元，讓6100-C擁有了*的小顆粒測試能力，高密度探測單元使LAP-W2000具有*的全量程無縫測試能力，高配版采用了雙光路設計。
防塵、防震設計：儀器整體進行了密封設計，大幅提高了內(nèi)部元器件使用壽命。*的懸浮式結構能有效避免外界震動對儀器的干擾，使結果測試更穩(wěn)定可靠。
自動對中：自行研制的自動對中系統(tǒng)包括步進電機、精密導軌、精密控制器以及軟件系統(tǒng)組成，較小步距1微米，保證激光束焦點始終從探測器中心點穿過，提高測試結果的準確性以及測試的重復性。自動對中系統(tǒng)是易仕特所有型號激光粒度儀的標準配置。
智能全自動操作模式：軟件實現(xiàn)一鍵式操作，自動進水、自動進樣、自動測試、自動清洗，整個測試過程實現(xiàn)一鍵式全自動操作，使用方便快捷。
*微量循環(huán)系統(tǒng)：整個分散循環(huán)系統(tǒng)進行了優(yōu)化設計，分散介質(zhì)大于180毫升即可循環(huán)測試，真正達到了微量循環(huán)測試；所有接頭采用了速插快擰設計，短時間內(nèi)即可更換全部管道；優(yōu)化的設計保證排水后無廢夜殘留，保證了下一次測試結果的準確性。
超寬量程：LAP-W2000量程達到了0. 1μm～2000μm。
超聲防干燒：LAP-W2000配備了100W大功率超聲，同時具有超聲防干燒功能。
誤操作保護：LAP-W2000具有自我保護功能，對一些會損害儀器的誤操作不響應，大大降低了因人為誤操作造成的損壞。
露點測量：樣品窗結霧會影響測量的準確性，這樣的測試結果沒有實際意義，LAP-W2000加裝了有霧點測量系統(tǒng)，一旦起霧軟件會自動提示。
免排氣泡設計：全新的設計使整個測試過程不會有氣泡進入測試樣品窗，避免了氣泡干擾（免排氣泡功能技術我們*擁有）。
樣品無殘留設計：儀器管道及排水結構進行了優(yōu)化設計，儀器管道、循環(huán)泵內(nèi)無積液殘留，避免對下一次測試數(shù)據(jù)的影響；干法測試同樣進行了無殘留設計。
樣品窗快換裝置：全新設計的樣品窗快換裝置，使樣品窗更換更方便快捷（20秒鐘即可完成樣品窗的拆裝過程）。

穩(wěn)定性及重復性達到國外儀器標準

 LAP-W2000濕法激光粒度儀廠家

主要技術參數(shù)：

激光粒度儀樣品測試報告